我們的優勢：

· 超過3億顆DFB芯片測試經驗

· 超過500萬顆EML芯片測試經驗

· 溫度測試范圍廣(-40℃~100℃)

· 二十多家客戶服務經驗，其中有超過十家國外客戶

· 數據庫跟蹤每個芯片的測試結果

· AOI可覆蓋脊波導發光區2μm

· 范圍完整的樣品、NPI和批量生產制程控制流程

· 完整的金樣、銀樣、校準和GRR控制流程

· 全過程無接觸芯片，避免靜電風險