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垂直腔面發射激光器測試服務

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垂直腔面發射激光器測試服務

可提供專業高效的VCSEL芯片芯片測試解決方案

測試種類:

3D傳感VCSEL 可涵蓋的波長:600nm至 1200nm

測試方式:

Chip測試


Wafer測試


測試指標:

·Ith 閾值

·Vop 電壓/p>

·P 功率

·SE 斜效率

·FF 遠場發散角

·PCE 光電效率

·LiPo 飽和

·Kink 功率扭折

·λP 波長

·?λ 半波譜寬

·NF 近場眼數



我們的優勢:

· 全球獨家提供全新先進的VCSEL芯片測試解決方案和OCR跟蹤解決方案

· 測試機高度集成,技術能力、穩定性和多樣性已超越歐美同類型設備廠商水平

· 設備得到歐美尖端客戶認可并已出口歐美

· 全球成本較低的解決方案

· AOI與測試相集成